Описание кабельного анализатора Fluke Networks OFP-100-QI/INTL
1. Измерение выполняется при 1,5 дБ ниже ненасыщенного пика отражения и при кратчайшей продолжительности импульса. Пик отражения < -40 дБ для многомодового режима и < - 50 дБ для одномодового режима.
2. Измерение выполняется при отклонении ± 0,5 дБ от обратного рассеяния и при кратчайшей продолжительности импульса. Пик отражения < -40 дБ для многомодового режима и < - 50 дБ для одномодового режима.
3. Для стандартного коэффициента обратного рассеяния для оптоволокна OM1: 850: -65 дБ, 1300: -72 дБ.
4. Стандартные коэффициенты обратного рассеяния и затухания для оптоволокна OM2-OM4: 850 нм: -68 дБ; 2,3 дБ/км: 1300 нм: -76 дБ; 0,6 дБ/км.
5. Стандартные коэффициенты обратного рассеяния и затухания для оптоволокна OS1-OS2: 1310 нм: -79 дБ; 0,32 дБ/км; 1550 нм: -82 дБ; 0,19 дБ/км.
6. SNR=1 метод, 3 минут в среднем, самая долгая продолжительность импульса.
7. 850 = 9 км стандартно для поиска конца или 7 км стандартно для поиска события 0,1 дБ (с максимальным затуханием 18 дБ перед событием).
8. 1300 = 35 км стандартно для поиска конца или 30 км стандартно для поиска события 0,1 дБ (с максимальным затуханием 18 дБ перед событием).
9. 1310 = 80 км стандартно для поиска конца или 60 км стандартно для поиска события 0,1 дБ (с максимальным затуханием 20 дБ перед событием).
10. 1550 = 130 км стандартно для поиска конца или 90 км стандартно для поиска события 0,1 дБ (с максимальным затуханием 18 дБ перед событием).
11. Не включает погрешность показателя преломления и погрешность автоматического определения местоположения события. 12. дБ колебания на шаг 1 дБ.
13. Относится к обратному рассеянию трассировки в пределах диапазона расстояния, на котором OTDR может найти событие 0,1 дБ.
Технические характеристикик кабельного анализатора Fluke Networks OFP-100-QI/INTL
| Ключевые спецификации OTDR | |||||||
| | Многомодовый модуль | Одномодовый модуль | Модуль Quad | ||||
| Длины волн | 850 нм ± 10 нм 1300 нм +35/-15 нм | 1310 нм ± 25 нм 1550 нм ± 30 нм | 850 нм ± 10 нм 1300 нм +35/-15 нм 1310 нм ± 25 нм 1550 нм ± 30 нм | ||||
| Совместимые типы оптоволокна | 50/125 мкм 62,5/125 мкм | Одномодовый | 50/125 мкм 62,5/125 мкм Одномодовый | ||||
| Мертвая зона событий 1 | 850 нм: 0,5 м стандарт 1300 нм: 0,7 м стандарт | 1310 нм: 0,6 м стандарт 1550 нм: 0,6 м стандарт | 850 нм: 0,5 м стандарт 1300 нм: 0,7 м стандарт 1310 нм: 0,6 м стандарт 1550 нм: 0,6 м стандарт | ||||
| Мертвая зона затухания 2 | 850 нм: 2,5 м стандарт 1300 нм: 4,5 м стандарт | 1310 нм: 3,6 м стандарт 1550 нм: 3,7 м стандарт | 850 нм: 2,5 м стандарт 1300 нм: 4,5 м стандарт 1310 нм: 3,6 м стандарт 1550 нм: 3,7 м стандарт | ||||
| Динамический диапазон 3, 5, 6 | 850 нм: 28 дБ, стандартно 1300 нм: 30 дБ, стандартно | 1310 нм: 32 дБ, стандартно 1550 нм: 30 дБ, стандартно | 850 нм: 28 дБ, стандартно 1300 нм: 30 дБ, стандартно 1310 нм: 32 дБ, стандартно 1550 нм: 30 дБ, стандартно | ||||
| Установка максимальной длины | 40 км | 130 км | MM: 40 км SM: 130 км | ||||
| Диапазон измерения расстояния 4, 5, 7, 8, 9, 10 | 850 нм: 9 км 1300 нм: 35 км | 1310 нм: 80 км 1550 нм: 130 км | 850 нм: 9 км 1300 нм: 35 км 1310 нм: 80 км 1550 нм: 130 км | ||||
| Диапазон отражающей способности 4, 5 | 850 нм: -14 дБ – -57 дБ (стандартно) 1300 нм: -14 дБ – -62 дБ (стандартно) | 1310 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно) 1550 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно) | 850 нм: -14 дБ – -57 дБ (стандартно) 1300 нм: -14 дБ – -62 дБ (стандартно) 1310 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно) 1550 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно) | ||||
| Разрешающая способность пробы | 3 см - 400 см | 3 см - 400 см | 3 см - 400 см | ||||
| Продолжительность импульса (номинальная) | 850 нм: 3, 5, 20, 40, 200 нс 1300 нм: 3, 5, 20, 40, 200, 1000 нс | 1310/1550 нм: 3, 10, 30, 100, 300, 1000, 3000, 10000, 20000 нс | 850 нм: 3, 5, 20, 40, 200 нс 1300 нм: 3, 5, 20, 40, 200, 1000 нс 1310/1550 нм: 3, 10, 30, 100, 300, 1000, 3000, 10000, 20000 нс | ||||
| Время тестирования (на длину волны) | | | | | | | |
| Автоматическая настройка: 5 с (стандартно) | Автоматическая настройка: 10 с (стандартно) | Автоматическая настройка: MM – 5 с (стандартно) SM – 10 с (стандартно) | |||||
| Настройка быстрого тестирования: 2 с (стандартно) | Настройка быстрого тестирования: 5 с (стандартно) | Настройка быстрого тестирования: MM – 2 с (стандартно) SM – 5 с (стандартно) | |||||
| Настройка наивысшей точности: 2 – 180 с | Настройка наивысшей точности: 5 – 180 с | Настройка наивысшей точности: MM – 2 – 180 с SM – 5 – 180 с | |||||
| Настройка FaultMap: 2 с (стандартно), 180 с (макс.) | Настройка FaultMap: 10 с (стандартно), 180 с (макс.) | Настройка FaultMap: MM – 2 с (стандартно), MM – 180 с (макс.) SM – 10 с (стандартно), SM – 180 с (макс.) | |||||
| Настройка OTDR для центра обработки данных: 1 с (стандартно при 850 нм), 7 с (макс.) | Настройка OTDR для центра обработки данных: 20 с (стандартно), 40 с (макс.) | Настройка OTDR для центра обработки данных: MM – 1 с (стандартно при 850 нм) MM – 7 с (макс.) SM – 20 с (стандартно) SM – 40 с (макс.) | |||||
| Ручная настройка: 3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с | Ручная настройка: 3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с | Ручная настройка: -3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с SM - 3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с | |||||
| | |||||||
